Стандарт загрязнения прицельной сетки Dev-Dep Development TSI MSP 2200-01-5002
Код товара 661767Задать вопрос
Написать отзыв
Делитесь опытом
Стандарты загрязнения пластин состоят из частиц, нанесенных на пластину (размером от 100 мм до 450 мм) с лучшим в отрасли контролем размера и количества частиц. Эти сертифицированные стандарты для инструментов контроля пластин полностью адаптированы для каждого клиента.
Определите характеристики и оптимизируйте чувствительность и общую производительность вашей системы контроля / метрологии пластин с помощью Dev-Dep ™ Development Wafer Contamination Standards от MSP, подразделения TSI. Эти высококачественные стандарты загрязнения пластин разработаны в соответствии с вашими спецификациями с быстрой обработкой, что позволяет сократить циклы обучения во время разработки инструментов и процессов.
Частицы размером менее 1,6 мкм (1600 нм) осаждаются с помощью передовой технологии генерации частиц и технологии прямого доступа к памяти в системах осаждения частиц MSP, разработанных для лучшего в своем классе осаждения микрочастиц и наночастиц. Модальный диаметр осаждаемых наночастиц контролируется с точностью до нанометра и разрешением субнанометра. Частицы размером от 1,6 до 20 мкм осаждаются с помощью недавно разработанной технологии генерации крупных частиц.
Частицы могут быть нанесены в виде точечных и полных (сплошных) шаблонов со стандартной обработкой. Доступны образцы дуги и кольца с нестандартной обработкой.
MSP имеет запасы кремниевых (Si) пластин размером 200 и 300 мм, а также может предоставить стеклянные пластины и сапфировые пластины в соответствии с техническими требованиями заказчика. Клиенты также могут предоставить пластины по своему выбору (голые, пленочные, с рисунком) для напыления. Можно обрабатывать вафли размером от 100 мм до 450 мм.
Преимущества
- Полностью индивидуальное решение, основанное на требованиях заказчика Удовлетворяет уникальным / сложным требованиям Консультация по применению
- Быстрый переход для более быстрого обучения
- Широчайший доступный диапазон материалов и размеров частиц
- Доступно более 100 стандартов размера частиц
- Настраиваемые схемы и места осаждения
- Контроль размера частиц с точностью до нанометра для наночастиц
- Постоянный размер частиц с субнанометровым разрешением для наночастиц
- Количество частиц от 100 до миллионов на депозит
- Тройная упаковка для транспортировки с малым сумматором
Отзывы и вопросы о товаре
-
5
0%
-
4
0%
-
3
0%
-
2
0%
-
1
0%
Рекомендуем также
-
-
-
-
-
-
-
-
-
-
-
-
-
-
-
-
-
-
-
-
-
-
-
-
-
-
-
DELTA OHM
HD8714 Раствор калибровочный стандартный
-
DELTA OHM
STCAL 4 Стандарт калибровочный
-
-
HACH LANGE
2277800 Стандарт на азот первичный 3шт
-
-
CONTROLS
26-T0325/9 Диск калибровочный
-
-
РУСПРИБОР
Гиря калибровочная 200г, кл. F2
-
-
HI 96747 11
-
-
1514008
-
-
OrionAQUAfastAC45ST
THERMOFISHER SCIENTIFICOrion AQUAfast AC45ST Набор из 5 первичных калибровочных стандартов
-
-
RemelR20410
THERMOFISHER SCIENTIFICRemel R20410 Стандарт мутности 0,5
-
-
Nanosphere3020A
THERMOFISHER SCIENTIFICNanosphere 3020A Стандарт размеров наносфер 15 мл, диаметр 20 нм
-
-
Nanosphere3450A
THERMOFISHER SCIENTIFICNanosphere 3450A Стандарт размеров наносфер 15 мл, диаметр 450 нм
-
-
NanosphereCD3560A
THERMOFISHER SCIENTIFICNanosphere CD3560A Стандарт размеров наносфер 15 мл, диаметр 565 нм
-
-
195070
-
-
467643
-
-
T-CAL 0,30NTU 500 мл
-
-
T-CAL 1NTU 1000мл
-
-
T-CAL 1NTU 125мл
-
-
T-CAL10/20/100/800NTU 500 мл
-
-
T-CAL 100NTU 125 мл
-
-
109970
-
-
130501
-
-
130520
-
-
134260
-
-
136900
-
-
139850
-
-
139870
-
-
169445
-
-
169450
-
-
169620
-
-
CPAF129201
-
-
CPAF129161