Привод/ энкодер шкива в сборе HAMILTON
Код товара 812852Задать вопрос
Написать отзыв
Делитесь опытом
Привод/ энкодер шкива в сборе
HAMILTON
Швейцария — родина бренда
Характеристики
| Характеристики | Значение |
|---|---|
| Бренд | Hamilton |
Отзывы и вопросы о товаре
-
5
0%
-
4
0%
-
3
0%
-
2
0%
-
1
0%
Рекомендуем также
-
-
-
-
-
-
-
-
-
-
-
-
-
-
-
TES-OBS
-
-
COOLEQ Испаритель
COOLEQИспаритель для CW-70 RT - 47
-
-
COOLEQ Испаритель
COOLEQИспаритель для IF-48GN
-
-
COOLEQ Испаритель
COOLEQИспаритель для SM-1
-
-
SSI236condenser(200мФ,
-
-
A6877-250G
-
-
TDE40040LDRCO
-
-
TDE50040LDRCO
-
-
DLCPTDATA102
-
-
DataTakerDT80G
-
-
Smart-VueProSVPHWRLGW002
-
-
B100373
THERMOFISHER SCIENTIFICB100364I Вкладыши 3D, объемом 50 л, пленка ASI 26, 33 см x 68,6 см, (бокс из 10 шт)
-
-
HyPerformaF100-2680-004
THERMOFISHER SCIENTIFICHyPerforma F100-2680-002 Биореактор стеклянный, с функцией нагрева, объемом 3 л, 120 В
-
-
HyPerformaSH3110301
-
-
LabtainerPL30011.15
-
-
LabtainerSH3070901
-
-
LabtainerSH3096302
-
-
LabtainerSH3104813
-
-
ProductainerSH30672.03
-
-
ProductainerSH3104701
-
-
ProductainerSH31301
-
-
SH3108501
THERMOFISHER SCIENTIFICSH3104702 Контейнер биотехнологический одноразовый, объемом 200 л, пленка Aegis 5-14, 3 порта
-
-
SH31202.11
-
-
SH31204.21
-
-
SH31204.23
-
-
SH31266.01
THERMOFISHER SCIENTIFICSH31266.01 Контейнер одноразовый для биотехнологий 2D, объемом 5 л, 3 порта
-
-
SH31317.02
-
-
SH31388.02
-
-
SH31395.12
-
-
SH31406.11
-
-
SH31416.01
-
-
SH31436.01
-
-
SH31478.01
-
-
SH31489.12
-
-
SH31489.23
-
-
208604-5KG
-
-
233676-1KG
-
-
KingFisher97002534
-
-
SavantSpeedVacRH40-12
-
-
SavantSpeedVacSPD140P
-
-
SavantSpeedVacSPD300DDA-230
THERMOFISHER SCIENTIFICSavant SpeedVac SPD300DDA-115 Концентратор вакуумный, большой емкости, 115 В
-
-
OrionAQUAfastCODH150
-
-
OxoidCT0003B
-
-
OxoidCT0056B
-
-
SensititreGN3F
-
-
SensititreT3462-10
THERMOFISHER SCIENTIFICSensititre T3462-10 Бульон Мюллера-Хинтона с катионной коррекцией, 11 мл, (упаковка из 10 шт)
-
-
Meridian EX
THERMOFISHER SCIENTIFICMeridian EX Система изоляции неисправностей полупроводников