Система осаждения частиц с автоматической загрузкой 20 нм TSI MSP 2300G3A-20 NM
Код товара 661411
Задать вопрос
Написать отзыв
Делитесь опытом
Почему вы выбрали именно этот товар?
Для каких целей планируете использовать?
Устраивает ли вас соотношение цены и качества?
Не терпим нечестные отзывы, а также:
Мат, ругательства, оскорбления и угрозы
Контактную информацию, рекламу и прочее, не относящиеся к теме
Обсуждение цены товара и ее изменение
Отзывы по обслуживанию и сервису следует оставлять через раздел Гарантийное обслуживание, там они будут рассмотрены в обязательном порядке
Эта полностью автоматизированная система осаждения частиц позволяет осаждать сферы PSL и SiO размером до 10 нм. Калибруйте и квалифицируйте свои инструменты для проверки дефектов с легкостью, уверенностью и эффективностью, производя большие объемы высококачественных стандартных стандартов загрязнения 300 мм и 200 мм . Роботизированная обработка пластин позволяет обрабатывать до 25 пластин за одно контрольное задание, повышая производительность ваших метрологических операций и улучшая выход продукции.
Система осаждения частиц модели 2300G3A обеспечивает лучшую в своем классе производительность для осаждения стандартных размеров частиц (включая стандарты размера MSP NanoSilica ™ ) на голые, пленочные и узорчатые пластины. Используя передовую технологию генерации частиц и дифференциального анализатора подвижности (DMA), 2300G3A контролирует модальный диаметр осаждаемых частиц с субнанометровой воспроизводимостью и прослеживаемостью SI для требовательных метрологических приложений в производстве полупроводников. Благодаря емкости для 16 суспензий частиц и рабочему диапазону режима прямого доступа к памяти от 10 нм до 2 мкм практически любая калибровочная кривая контрольного прибора может быть создана путем осаждения с помощью одного автоматизированного рецепта.
Преимущества
- Полное (одеяло), точечное, дуговое и кольцевое депонирование
- Точный контроль рецептуры размера осаждаемых частиц
- Распыление наночастиц для генерации чистых частиц до 20 нм
- Классификация размера прямого доступа к памяти для выбора распределения узкого размера
- Минимизация кластеров частиц и остаточных частиц
- Рецептный контроль ширины рисунка отложений
- Отчеты об анализе рецептуры, осаждения и суспензии
- Эргономичный дизайн
- Сервис и поддержка по всему миру
Информация о технических характеристиках, комплекте поставки, стране изготовления, внешнем виде и цвете товара носит справочный характер и основывается на последних доступных к моменту публикации сведениях
Отзывы и вопросы о товаре
Записей ещё нет — вы станете первым.
0
0 отзывов
- 5 0%
- 4 0%
- 3 0%
- 2 0%
- 1 0%
