Платформа для GISAXS 2.0
Код товара 539352
Задать вопрос
Написать отзыв
Делитесь опытом
Почему вы выбрали именно этот товар?
Для каких целей планируете использовать?
Устраивает ли вас соотношение цены и качества?
Не терпим нечестные отзывы, а также:
Мат, ругательства, оскорбления и угрозы
Контактную информацию, рекламу и прочее, не относящиеся к теме
Обсуждение цены товара и ее изменение
Отзывы по обслуживанию и сервису следует оставлять через раздел Гарантийное обслуживание, там они будут рассмотрены в обязательном порядке
Платформа для GISAXS 2.0.
Исследование наноструктурированных поверхностей и тонкопленочных образцов.
Характеристики
| Диапазон температур | от -150 °C до +500 °C |
| Точность поддержания температуры | +/-0.1 °C |
| Размер образца | до 100 мм x 100 мм |
| Наклон образца | от -4° до +5.6° |
| Вращение образца | от 0° до 345° |
Информация о технических характеристиках, комплекте поставки, стране изготовления, внешнем виде и цвете товара носит справочный характер и основывается на последних доступных к моменту публикации сведениях
Отзывы и вопросы о товаре
Записей ещё нет — вы станете первым.
0
0 отзывов
- 5 0%
- 4 0%
- 3 0%
- 2 0%
- 1 0%
