Нано скретч-тестер NST3

NST3 - нано скретч-тестер.

Нано скретч тестер разработан для оценки адгезии, хрупкости, деформации, отслаивания и износостойкости в тонких пленках и покрытиях с типичной толщиной менее 1000 нм. Нано скретч тестер может использоваться для анализа органических и неорганических веществ; мягких и твердых покрытий. Примерами могут служить многослойные покрытия PVD, CVD, PECVD, фоторезист, краски, лаки и многие другие типы пленок, покрывающих оптические приложения, микроэлектронику, защитные, декоративные и другие типы приложений. Подложки могут быть мягкими или твердыми, включая металлические сплавы, полупроводники, стекло и органические материалы. Метод реализует контролируемое царапание алмазным индентором на выбранном участке образца/изделия при заданном режиме нагрузки и длине царапины. Наконечник индентора (обычно алмаз, сапфир, карбид вольфрама) перемещается по поверхности образца с постоянной, возрастающей или прогрессивной нагрузкой. При определенной критической нагрузке покрытие начнет трескаться, разрушаться и отслаиваться. Критические нагрузки очень точно регистрируются акустическим сенсором (MST и RST) закрепленном на кронштейне царапающего индентора, одновременно их можно визуально зафиксировать посредством оптического микроскопа.