Устройство для лазерной вспышки для измерения температуропроводности и теплопроводности NETZSCH LFA 457 MicroFlash

Прибор NETZSCH LFA 457 MicroFlash®® разработан с учетом новейших достижений в области систем определения теплопроводности методом лазерной вспышки. Эта настольная модель позволяет проводить измерения в диапазоне температур от -125°C до 1100°C с использованием двух взаимозаменяемых печей.
Применение передовой технологии инфракрасных сенсоров сделало возможным детектирование температуры на обратной стороне образца даже при -125°C.
Установка может быть использована для исследования малых и больших образцов диаметром до 25.4 мм; имеется встроенный держатель для одновременного измерения нескольких образцов. Герметичная конструкция прибора позволяет проводить испытания в атмосфере заданного состава.
Вертикальное расположение держателя образцов, печи и детектора упрощает процедуру замены образца и в то же время гарантирует оптимальное соотношение сигнал/шум для детектора.
Прибор LFA 457 MicroFlash®® является самой современной и универсальной системой определения теплопроводности для решения научно-исследовательских задач и прикладных вопросов, связанных с определением характеристик стандартных и высокоэффективных функциональных материалов для автомобилестроения, аэронавтики и энергетической промышленности.

Преимущества

• Точная корректировка продолжительности импульса, отображение пульсаций (pulse mapping)
• Поправки на переохлаждение, полный набор моделей из литературных источников
• Нелинейная регрессия для подгонки по методу Ковэна (Cowan fit)
• Улучшенная модель Кэйп-Леманна (Cape-Lehmann), включающая многомерные эффекты переохлаждения и нелинейную регрессию
• Поправки на излучение для полупрозрачных образцов
• Двух- и трехслойные системы: анализ с помощью нелинейной регрессии с учетом переохлаждения
• Определение контактного сопротивления в многослойных системах
• Специальный программный модуль, позволяющий выбирать оптимальную модель для анализа результатов
• Определение удельной теплоемкости методом сравнения с использованием стандартных образцов
• Интегрированная база данных